Estatísticas para Estudo estrutural e óptico de pós e filmes do sistema Y23-Al2O3-SiO2 dopados com terras raras para fotônica: síntese via método dos precursores poliméricos e evaporação por feixe de elétrons
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| Estudo estrutural e óptico de pós e filmes do sistema Y23-Al2O3-SiO2 dopados com terras raras para fotônica: síntese via método dos precursores poliméricos e evaporação por feixe de elétrons | 0 |
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