Universidade de São PauloLa Scala Junior, Newton2016-09-212016-09-212009-06-15http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54132/tde-08062009-094348/http://repositorio.ifsc.usp.br/handle/RIIFSC/7018Neste trabalho apresentamos uma instrumentação que é capaz de estabilizar e medir o comprimento de onda emitido por um laser de semicondutor em 1 parte de 106. Para obtermos essa precisão foi necessário desenvolver um controlador de temperatura, uma fonte de corrente e um medidor de onda.In this work we present an instrumentation that is able to stabilize and measure the semiconductor laser wavelength with a precision of 1 part in 106. To obtain this precision was necessary to develop a temperature controller, current source and wave meter.application/pdfLasersMedidor de ondaPropriedades ópticasSemicondutoresLasersOptical propertiesSemiconductorsWavemeterDissertação de MestradoLa Scala Junior, Newton10.11606/D.54.1989.tde-08062009-094348