Aplicação das técnicas de espectroscopia de absorção e difração de raios-X na caracterização estrutural de materiais

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dc.contributorInstituto de Física de São Carlos – IFSC/USPpt_BR
dc.contributor.authorMastelaro, Valmor Roberto
dc.date.accessioned2015-12-08T12:27:22Z
dc.date.available2015-12-08T12:27:22Z
dc.date.issued2015-12-08
dc.description.abstractEste projeto tem como objetivo iniciar no DEMa-UFSCar uma nova linha de pesquisa voltada à utilização de técnicas de espectroscopia e difração de raios-x na caracterização estrutural de materiais. Dois temas serão desenvolvidos: 1) utilização da técnica de EXAFS-XANES no estudo da estrutura local em materiais amorfos e cerâmicas policristalinas, e 2) utilização da técnica de difração de raios-x no estudo de tensões residuais em materiais parcialmente cristalizados.pt_BR
dc.description.notesOutorgado: Prof. Dr. Valmor Roberto Mastelaro; Universidade de São Paulo, USP, Instituto de Física de São Carlos, IFSC, Departamento de Física e Ciência dos Materiais, FCM, Grupo Crescimento de Cristais, São Carlos, SP, Brasil.pt_BR
dc.description.notesPublicação FAPESP sobre o auxílio: http://media.fapesp.br/bv/uploads/pdfs/Investindo...pesquisadores_445_305_305.pdfpt_BR
dc.description.sponsorshipFAPESP (96/05249-0)pt_BR
dc.format1 p.pt_BR
dc.format.mediumDigitalpt_BR
dc.identifier.urihttp://repositorio.ifsc.usp.br/handle/RIIFSC/5939
dc.language.isoporpt_BR
dc.rightsAcesso abertopt_BR
dc.subjectEstrutura dos materiaispt_BR
dc.subjectMateriais cerâmicospt_BR
dc.subjectEspectroscopia de absorção atômicapt_BR
dc.subjectDifração por raios Xpt_BR
dc.subject.classificationIFSC - FCMpt_BR
dc.titleAplicação das técnicas de espectroscopia de absorção e difração de raios-X na caracterização estrutural de materiaispt_BR
dc.type.categoryPesquisapt_BR
usp.date.end2001-09-30
usp.date.initial1997-02-01
usp.date.ratification1997
usp.description.localSão Carlos, SP, Brasilpt_BR
usp.isreferencedbyhttp://www.bv.fapesp.br/pt/auxilios/3335/aplicacao-das-tecnicas-de-espectroscopia-de-absorcao-e-difracao-de-raios-x-na-caracterizacao-estrutu/pt_BR

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