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    Estudo das propriedades de transporte e armazenamento de cargas elétricas em filmes de Teflon FEP.
    (2009-04-08) Cardoso, Celso Xavier
    No estudo do transporte e armazanamento de cargas elétricas, em filmes de Teflon FEP, utilizamos a Técnica de Pulso Térmico em conjunto com a Técnica de Corrente Termoestimulada em circuito aberto. Através das duas técnicas, pudemos acompanhar a evolução das cargas nas amostras (de 25 μm) submetidas ao Annealing e a descarga iônica em diferentes situações, comparando os resultados obtidos em amostras virgens com as amostras tratadas ou irradiadas. No caso das amostras irradiadas, verificamos que o contato era injetor de buracos e, posteriormente, sugerimos a dependência da mobilidade de buracos com o campo elétrico aplicado. Na tentativa de explicar os resultados obtidos, fizemos uso de alguns modelos teóricos de correntes limitadas por carga espacial.
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    Propriedades ópticas de vidros de fluoretos de indio e zircônio puros e dopados com Nd ou Pr.
    (2009-03-23) Cardoso, Celso Xavier
    Neste trabalho apresentamos uma nova classe de vidros de fluoretos de metais pesados (HMF) baseados nos fluoretos de índio (InF3) de composição InSrBaZnGdNa e InSrBaZnGaNa. Realizamos um estudo das propiredades físicas (tais como: índice de refração, temperaturas características e estabilidades) e óticas (absorção, emissão e tempo de vida) de vidros puros e dopados com Nd ou Pr. As propriedades estão comparadas com aquelas dos vidros ZrBaLaAlNa (ZBLAN). A principal característica dos vidros de fluoretos de índios puros é a extensa transmissão no IV (até 8330 nm), maiores que a do ZBLAN (até 6650 nm). Tanto os vidros dopados com Nd como com Pr são materiais promissores para o desenvolvimento de laser com emissões a 1050 e 1320 nm nos vidros de Nd e a 1320 nm no vidro com Pr e amplificadores óticos para telecomunicações na janela ótica centrada a 1300 nm, uma vez que apresentam bandas de emissão a 1315 nm (InSBZnGdN), 1317 nm (InSBZnGdN:Nd) e a 1320 nm (InSBZnGdN:Pr).