EMU - Equipamentos Multiusuários - Modalidade 1

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dc.contributorInstituto de Física de São Carlos – IFSC/USPpt_BR
dc.contributor.authorOliveira Junior, Osvaldo Novais de
dc.date.accessioned2015-06-11T12:29:56Z
dc.date.available2015-06-11T12:29:56Z
dc.date.issued2015-05-28
dc.description.abstractO Elipsômetro espectrográfico acoplado a microscópio no ângulo de Brewster: será usado para estudar filmes nanoestruturados na interface ar-água (filmes de Langmuir) e em substratos sólidos. Ele provê informações cruciais a respeito de propriedades óticas e a respeito da espessura de filmes orgânicos e dispositivos construídos a partes desses. Ele permite que se conheçam valores de parâmetros óticos e a porcentagem de despolarização da luz, sendo, portanto, adequado para se estudar filmes em substratos refletivos e transparentes, e também em amostras anisotrópicas. Assim, é útil para analisar vários tipos de amostras (semicondutores, metais, polímeros, etc.) sobre uma larga amplitude de intensidades de energia.pt_BR
dc.description.notesOutorgado: Prof. Dr. Osvaldo Novais de Oliveira Junior; Universidade de São Paulo, USP, Instituto de Física de São Carlos, IFSC, Departamento de Física e Ciência dos Materiais, FCM, Grupo de Polímeros "Prof. Benhard Gross", São Carlos, SP, Brasil.
dc.description.sponsorshipFAPESP (14/11407-7)pt_BR
dc.format1p.pt_BR
dc.format.mediumAnalógicopt_BR
dc.identifier.urihttp://repositorio.ifsc.usp.br//handle/RIIFSC/3279
dc.language.isoporpt_BR
dc.rightsAcesso abertopt_BR
dc.subjectBiossensorespt_BR
dc.subjectElipsometriapt_BR
dc.subjectFilmes ultra-finospt_BR
dc.subject.classificationIFSC - FCMpt_BR
dc.titleEMU - Equipamentos Multiusuários - Modalidade 1pt_BR
dc.type.categoryPesquisapt_BR
usp.date.end2017-03-31
usp.date.initial2015-04-01
usp.date.ratification2015-03-15
usp.description.abstracttranslatedThe spectrographic Elipsometer coupled with a Brewster angle microscope will be used to study nanostructured films on air-water interface (Langmuir films) and solid substrates. It provides crucial information about optical properties and about the thickness of organic films and devices fabricated with them. It allows determine optical parameter values, and the percentage of depolarization of light, being therefore suitable to study films on reflective and transparent substrates, and also in anisotropic samples. Thus, it is useful to analyze various types of specimens (semiconductors, metals, polymers, etc.) in a wide range of energy intensities.pt_BR
usp.description.localSão Carlos, SP, Brasil.pt_BR
usp.isreferencedbyhttp://www.bv.fapesp.br/pt/pesquisa/?q=14/11407-7
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